In ihrer Arbeit mit dem Titel “Simulation of Dynamic Atomic Force Microscopy Images" präsentiert sie die Entwicklung, Umsetzung und Anwendung von Methoden für die Berechnung von genauen Rasterkraftmikroskop-Bildern auf dem Niveau der Dichtefuntktionaltheorie.

Die entwickelte Methode erlaubt die Reproduktion der relevanten Details der hochaufgelösten Bilder mit einer vollständigen Beschreibung der elektronischen Struktur sowohl der AFM-Spitze als auch der molekularen Probe. Die von Corina Keller entwickelte Methode wird nun auch von Arbeitsgruppen in der Materialforschung ausserhalb ihres Labors angewendet.